貼片電感機(jī)器視覺檢測設(shè)備檢測電感外觀方案！
作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時(shí)間 : 2020-02-25 瀏覽 : 142 次
注明：貼片電感機(jī)器視覺檢測設(shè)備，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
最大尺寸長14mm*寬14mm*高6mm的產(chǎn)品的外觀檢測
| 序號(hào) | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 殘缺、裂紋 | 正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 劃痕、劃傷 | 正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 端子不良 | 正光檢測 | 可檢 |
| 4 | 臟污、異物 | 正光檢測 | 可檢 |
| 5 | 露銅 | 正光檢測 | 可檢 |
注明：貼片電感機(jī)器視覺檢測設(shè)備，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號(hào)：SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號(hào) | 部件名稱 | 規(guī)格型號(hào) | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺(tái) |
| 4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 6套 |
| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 6套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 6套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 6套 |
| 8 | 檢測平臺(tái) | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) | 1套 |
| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
設(shè)備外觀3D立體圖
樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：破損
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子反向
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：臟污
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：裂紋
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子發(fā)黑
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子不平
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：裂紋
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子反向
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：邊緣破損
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：殘缺
正面正光檢測良品分析圖：OK
正面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子不平
側(cè)面正光檢測良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：露銅
反正面正光檢測良品分析圖：OK
反正面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：裂紋
反側(cè)面正光檢測良品分析圖：OK
反側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：端子發(fā)黑
是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)自動(dòng)化檢測設(shè)備，視覺檢測設(shè)備，光學(xué)篩選機(jī)的生產(chǎn)廠家，本公司提供不同行業(yè)的自動(dòng)化檢測設(shè)備的非標(biāo)定制生產(chǎn)···
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