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電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測產(chǎn)品外觀尺寸方案！

作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時間 : 2022-10-17 瀏覽 : 411 次
注明：電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
商務(wù)咨詢：178-5603-5060（微信同號）
一、檢測內(nèi)容及要求
 
檢測內(nèi)容：
序號 檢測位置 檢測方式 是否可檢 備注
1 尺寸檢測 背光檢測 可檢 局部檢測

注明：電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。

二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
 
設(shè)備型號：SP-T300非標(biāo)定制機          外形尺寸：900*800*1850mm
         組成部件清單：
序號 部件名稱 規(guī)格型號 數(shù)量
1 視覺檢測軟件 SIPOTEK 1套
2 工業(yè)電腦 SIPOTEK定制 1套
3 顯示器 PHILIPS  19”液晶顯示器 1臺
4 工業(yè)相機 海康2000萬工業(yè)相機 2套
5 相機調(diào)節(jié)伺服模組 SIPOTEK定制 2套
6 工業(yè)鏡頭 遠(yuǎn)心工業(yè)鏡頭 2套
7 光源 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 2套
8 檢測平臺 SIPOTEK定制一鍵測量 1套

電子元器件外觀檢查設(shè)備外觀3D立體圖

電子元器件外觀檢查設(shè)備
三、樣件測試圖片:
產(chǎn)品正面背光檢測打光效果圖

電子元器件外觀檢查設(shè)備
背光檢測良品分析圖： 引出中心到中心線的距離 可檢

背光檢測良品分析圖
 
背光檢測良品分析圖： 引出中心到端面的距離 可檢

電子元器件外觀檢查設(shè)備
 
背光檢測良品分析圖： 引腳到圓心的距離 可檢

電子元器件外觀檢查設(shè)備

產(chǎn)品側(cè)面背光檢測打光效果圖

電子元器件外觀檢查設(shè)備
背光檢測良品分析圖： 引腳到塑膠底面的距離 可檢

電子元器件外觀檢查設(shè)備

電子元器件外觀檢查設(shè)備采用工業(yè)照相機將被檢測的產(chǎn)品轉(zhuǎn)換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號，圖像處理系統(tǒng)對這些信號進行各種運算來抽取目標(biāo)的特征。電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測效率快、準(zhǔn)確率高備受企業(yè)青睞。安徽思普泰克專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)電子元器件外觀檢查設(shè)備，如需獲取產(chǎn)品外觀檢測方案請登錄官網(wǎng)查閱：www.9hhz.com